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Hochfrequenz- und Mikrowellenmesstechnik

Grundlagen, Analysemethoden, Messverfahren

Beschreibung
Hochfrequenz- und mikrowellentechnische Schaltungen und Geräte werden gegenwärtig in enormen Stückzahlen für immer höhere Frequenzen entwickelt, produziert und verkauft. Dieser Trend wird durch zusätzliche Wireless Übertragungen und hochfrequent getaktete Embedded Systems unterstützt. Bei der dazugehörigen Messtechnik spielt die Untersuchung und Analyse von HF- und Mikrowellensignalen eine herausragende Rolle.

Ziel des Seminars
Neben Grundlagen der Spektrumanalyse für Analog-, Puls- und Digital-Signale wird die HF- und mikrowellengerechte Messung von Leistungen, Feldstärken und komplexen Impedanzen vorgestellt. Die Erläuterung von Fehlerortsmessungen mit Time Domain- und Frequency-Domain-Reflectometry rundet das Grundlagen-Seminar ab.
Das Seminar zeigt, wie Messungen dieser Größen und Signale unter Beachtung vieler HF-typischer Effekte prinzipiell und korrekt durchgeführt werden können.

Sie erhalten Qualität
Das Qualitätsmanagementsystem der Technischen Akademie Esslingen ist nach DIN EN ISO 9001 und AZAV zertifiziert.

Seminarthemen im Überblick
Montag, 25. September 2017
9.00 bis 12.00 Uhr und 13.00 bis 17.00 Uhr

1. Einführung in die besonderen Probleme der HF- und Mikrowellenmesstechnik
> Messplatzausstattung
> erforderliches Zubehör, Steckersysteme und Komponenten
> Einfluss des Skin-Effekts und der Moding-Effekte

2. Feldstärke-Messtechnik
> korrekte E- und H-Feldstärkemessungen
> Messung der Leistungsflussdichte
> Antennenfaktoren, Effektive Antennenlänge
> Wirkfläche von Messantennen

3. Leistungsmessung
> Durchgangs- und Absorptions-Leistungsmessung
> Thermische- und Thermoelement-Messköpfe zur Messung von Pavg
> Dioden-Messköpfe zur Messung von Ppeak

Dienstag, 26. September 2017
9.00 bis 12.00 Uhr und 13.00 bis 17.00 Uhr

4. Einführung in die Spektrumanalyse Analyse analoger und digitaler Signale Spektrumsgewinnung durch Fourier Analysatoren

5. Impedanzmessung
5.1 Grundlagen, Smith-Chart, S-Parameter
5.2 Skalare Netzwerkanalyse
5.3 Vektorielle Netzwerkanalysatoren

6. Fehlerortungs-Messverfahren (Distance to the Fault, DTF)
6.1 Time Domain Reflectometry (TDR)
6.2 Frequency Domain Reflectometry (FDR)

 


Dieser Kurs hat bereits stattgefunden.
Informieren Sie sich bei uns über Folgedaten.
Datum: Montag, 25. September 2017
Ort: Zürich, Technoparkstraße 1
Preis: 1.140,00€
Code: 35123.00.001
Dauer: 2 Tage
ReferentIn: Prof. Dipl.-Ing. P. Pauli




 

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