Portal für Ausbildung, Weiterbildung, Kurse, Lehrgänge, Seminare

Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Kompon...

Elektronische Geräte und Anlagen mit hoher Bauelementedichte unter Einbeziehung von Hard- und Software erfordern aufgrund der vielfältig von einander abhängigen Funktionen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit, damit ein fehlerfreier Betrieb über einen definierten Zeitraum aufrechterhalten werden kann.

Ziel des Seminars
Zuverlässigkeitssicherung ist ein Muss und erfordert präventiv höchste Aufmerksamkeit sowie durchdachte Strategien und Methodiken, um sowohl mit entsprechenden Zuverlässigkeitsprogrammen und -strategien als auch mit Umwelt- und Lebensdauertests zielführende Schlüsse aus den gewonnenen Ergebnissen zu ziehen. Das Seminar vermittelt praktizierbares Wissen über Zuverlässigkeit, relevante Methoden, Prozesse und Zuverlässigkeitsmanagement.

Teilnehmerkreis
Dieses Seminar richtet sich an Mitarbeiter aus Entwicklung, Konstruktion, Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung, Materialwirtschaft, Einkauf, Fertigung, Prüffeld und Instandhaltung.
Das Seminar ist vom VDSI Verband Deutscher Sicherheitsingenieure e.V. als geeignet für die Weiterbildung von Sicherheitsfachkräften nach § 5 (3) ASiG eingestuft worden, und die Teilnehmer erhalten auf der qualifizierten Teilnahmebescheinigung 2 VDSI-Punkte Arbeitsschutz.

Seminarthemen im Überblick

1. Einführung
> Motivation und Zielsetzung, Definition
> Lebensdauerkurve
> Zuverlässigkeitsmanagement
> Inhalte eines Zuverlässigkeitsprogramms
> Aufgabenstellung Reliability Engineering
> Hinweise zu rechtlichen Aspekten
> Hinweise zu Methoden und Tools

2. Kenngrößen der Zuverlässigkeit
> Erläuterung einiger statistischer Begriffe (Grundlagen)
> Zuverlässigkeitskenngrößen wie Ausfallrate, MTBF/MTTF, Überlebenswahrscheinlichkeit, Ausfallwahrscheinlichkeit, MTTR, MDT, Zustandsdiagramme, Verfügbarkeit, Nichtverfügbarkeit
> Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauernetz
> Bestimmung der Weibullparameter
> Testdauer bei verfügbarer Anzahl der Prüflinge, geforderter Aussagesicherheit und gegebener Zuverlässigkeit
> Ermittlung der Ausfallrate unter Berücksichtigung von Beschleunigungsfaktoren
> Larson Nomogramm
> Hinweise zu verfügbarer Software
> Berechnung von Beispielen, Übungen

3. Zuverlässigkeitsprüfungen/Umweltsimulationstests/Qualifikationsabläufe/Erprobung
> Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
> Prinzip des Robustness Validation Prozesses
> Wirkung der Stresstests auf potenzielle Schwachstellen am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Beschleunigungsgesetze von Arrhenius, R. W. Lawson, Peck, Coffin-Manson mit Beispiel und Übungen
> Definition und Ableitung eines Mission Profile
> Vorgehensweise bei der Entwicklung eines Qualifikationsplanes
> Ablauf und Beispiel von Qualifikationen für IC's, ECU, PCB
> Ablauf einer Fehleranalyse und Analysetechniken
> Berechnung von Beispielen, Übungen

4. Definition des Lebensdauertests und Ermittlung der Ausfallrate
> Gesetz von Arrhenius sowie Einfluss und Bedeutung der Aktivierungsenergie
> Bestimmung des Raffungsfaktors am Beispiel integrierter Halbleiterschaltungen und elektronischer Geräte
> Ausfallrate und Vertrauensbereich, Chi-Quadrat Verteilung
> Hinweise und Interpretation zur Verwendung von FIT-Raten aus Herstellerangaben
> Umrechnung von Herstellerangaben auf Applikationsumgebung/Feldbedingungen
> Berechnung von Beispielen, Übungen

5. Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von elektronischen Baugruppen
> Motivation – Ziel – Erwartetes Ergebnis
> Kenngröße MTBF
> Parts Count und Part Stress Analysis Methode
> Qualitäts- und Belastungsfaktoren
> Quellen und Handbücher zu Ausfallraten
> typische Vorgehensweise bei der Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
> Kriterien sowie Bereitstellung von Unterlagen
> Vorgehensweise bei der MTBF-Berechnung
> Interpretation ermittelter Ausfallraten bzw. MTBF/MTTF Werte
> Prinzip der HW-Bewertung unter dem Aspekt Funktionaler Sicherheit
> Berechnung von Beispielen und Übungen

6. Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung einfacher Systeme
> Prämissen und Vorgehensweise
> Zuverlässigkeitsblockdiagramm
> Ermittlung der Zuverlässigkeit unterschiedlicher serieller und paralleler Strukturen
> Ermittlung der Zuverlässigkeit gemischter Systeme
> Berechnung von Beispielen, Übung zur Ermittlung von R(t) für ein gegebenes System

7. Zuverlässigkeitsanalyse, Methoden (einige)
> LCC, Life Cycle Cost
> FMEA, Failure Modes and Effect Analysis
> FuSi, Funktionale Sicherheit
> Pareto
> Ursache-Wirkungs-Diagramm
> Boole
> FTA, Fault Tree Analysis
> Wahrscheinlichkeitsgesetze
> kurze Einführung zum Markov Prinzip

8. Hinweise zu Normen mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
9. Hinweise zur Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren
10. Abkürzungen und Begriffe
11. Zusammenfassung und Diskussion

Extras
Die Seminarteilnahme beinhaltet Verpflegung und ausführliche Seminarunterlagen.
Beim gemeinsamen Mittagessen findet ein reger Austausch mit den Referenten statt. Jeder Teilnehmer erhält zu Beginn des Seminars eine Mappe mit ausführlichen Seminarunterlagen.
Die Teilnehmerzahl ist auf 12 Teilnehmer begrenzt um den optimalen Lernerfolg zu garantieren.

Kosten
Die Kosten betragen pro Teilnehmer 1.030 EUR (mehrwertsteuerfrei), inklusive aller Extras.

 


Dieser Kurs hat bereits stattgefunden.
Informieren Sie sich bei uns über Folgedaten.
Datum: Dienstag, 14. März 2017
Ort: Zürich, Technoparkstr. 1
Preis: 1030,00 EUR
Code: 34989.00.001
Dauer: 2 Tage
ReferentIn: Dipl.-Ing. Armin Gottschalk, IQZG Consulting




 

Unverbindlich und kostenlos Unterlagen bei oben ausgewählten Anbietern bestellen. (Datenschutz)

   



 
 

Wir freuen uns, dass Sie dieses Angebot weiterempfehlen.

(E-Mailadresse Empfänger)

 




 
© 2017 by seminare.ch | Portal für Ausbildung & Weiterbildung